FEI掃描電鏡Prisma E SEM是一款高度靈活的掃描電子顯微鏡（SEM），在各種條件下都能有出色的全能性能。

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更新日期：2023-03-20

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Quattro SEM環(huán)境掃描電子顯微鏡為具有環(huán)境真空功能的靈活、多功能高分辨率掃描電鏡，可以將成像和分析全面性能與環(huán)境模式（ESEM）相結合，使得樣品研究得以在自然狀態(tài)下進(jìn)行。

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Quattro SEM為具有*環(huán)境真空功能的靈活、多功能高分辨率掃描電鏡，可以將成像和分析全面性能與環(huán)境模式（ESEM）相結合，使得樣品研究得以在自然狀態(tài)下進(jìn)行。

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Quattro場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)‵EG）確保了優(yōu)異的分辨率，通過(guò)不同的探測器選項，可以調節不同襯度信息，包括定向背散射、STEM和陰極熒光信息。

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Prisma E SEM掃描電鏡是一款高度靈活的掃描電子顯微鏡（SEM），在各種條件下都能有出色的全能性能?；谄涞驼婵蘸铜h(huán)境掃描的SEM （ESEM）模式，它*具備分析不導電，含氣體、水分或其它非常規測試的樣品。

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更新日期：2023-03-20

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OTS一鍵夾雜物分析系統是一套集掃描電子顯微鏡、大面積高速能譜探測器、夾雜物自動(dòng)分析軟件以及樣品潔凈度評 價(jià)及建議為一體的綜合性分析系統。該系統不僅具有完備的電子光學(xué)成像系統，能對鋼中非金屬夾雜物的微觀(guān)形貌進(jìn)行清晰觀(guān)察，而且配有 業(yè)界領(lǐng)x的大面積高速X射線(xiàn)能譜儀，自動(dòng)對試樣選定區域內所有鋼中非金屬夾雜物的化學(xué)成分進(jìn)行快速準確分析。

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更新日期：2023-03-20

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