STEM透射電鏡

產(chǎn)品介紹

Thermo ScientificTM TalosTM F200X STEM透射電鏡提供快速、準確的納米材料多尺度表征，配備多種創(chuàng )新功能以提高效率、精度與易用性，是學(xué)術(shù)、政府和工業(yè)等領(lǐng)域進(jìn)行高級研究與分析的理想選擇。

高分辨率成像，獲取更高質(zhì)量的數據
Talos F200X S/TEM 融合了出色的高分辨率 STEM 和 TEM 成像功能、能譜儀 (EDS) 信號檢測功能及基于成分面分析的三維化學(xué)表征功能。Thermo Scientific Velox TM S/TEM 控制軟件通過(guò)智能掃描引擎、基于多個(gè) STEM 探測器的多通道合并技術(shù)以及差分相位襯度 (DPC) 成像技術(shù)，顯著(zhù)改善了 S/TEM 成像質(zhì)量，可以更好地分析電磁結構，并實(shí)行快速、準確的 EDS 數據處理和定量分析。

X-FEG 高亮度電子槍可以在提供高達標準肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍五倍亮度的同時(shí)保持較小的會(huì )聚角。用戶(hù)可以獲取高信噪比以及 STEM、EDS 圖像分辨率和更多高分辨 TEM 應用。X-FEG 高亮度電子槍所具有的高穩定性及使用壽命很長(cháng)等特點(diǎn)，使其具有更高的成像效率。

視野更大，速度更快

Talos 快速 D/TEM 成像支持高分辨率以及原位動(dòng)態(tài)成像。 Thermo Scientific Ceta 16M TM 相機的視場(chǎng)范圍更大，圖像采集分辨率可高達每秒 25 幀，同時(shí)，壓電樣品臺可確保高靈敏度、無(wú)漂移成像和樣品導航，從而節約時(shí)間并允許用戶(hù)采集更多樣品數據。

加快納米尺度分析以更快獲取答案

Talos F200X S/TEM 采用賽默飛 Super-XTM 集成 EDS 系統，配備四個(gè)硅漂移 X 射線(xiàn)探測器，具有*靈敏度，每秒可收集高達 105 幅能譜。X-TWIN 物鏡集成，大限度地提高了 X 射線(xiàn)收集效率，同時(shí)達到給定束流(甚至是低強度 EDS 信號)下的理想輸出計數率。

更輕松地開(kāi)展研究
Talos S/TEM 采用友好的數字用戶(hù)界面和人體工程學(xué)設計，允許多名科學(xué)家訪(fǎng)問(wèn)成像和分析工作流程?？焖賵D像采集與簡(jiǎn)單易用的操作平臺相結合，即使是經(jīng)驗不足的操作者也能夠快速收集結果。人機分離的遠程操作設計顯著(zhù)提高了易用性、舒適性和電鏡的穩定性。此外，為了確保維持工作效率，Talos S/TEM 配備了新型設備狀態(tài)記錄和診斷軟件，以便收集重要的儀器參數，便于遠程診斷和支持。

Thermo ScientificTM TalosTM F200X STEM透射電鏡參數：

X-FEG 亮度       1.8 × 109 A/cm2 srad(@200 kV)
總電子束電流     > 50 nA
探針電流       1.5 nA @ 1 nm 束斑 (200 kV)
Super-X EDS 系統    采用對稱(chēng)設計的 SDD 能譜探頭，無(wú)窗設計，遮板保護
能量分辨率  ≤ 136 eV Mn-Kα @10 kcps(輸出)
快速 EDS 面分析    像素駐留時(shí)間短至 10 μs
STEM HAADF 分辨率  0.16 nm
EDX 立體角 0.9 srad
TEM 信息分辨率 0.12 nm
大衍射角度 24 ?
雙傾樣品桿的大傾斜角度 ±35° α 傾角 /±30° β 傾角
樣品臺大傾斜角度 ±90