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FIB顯微鏡
- 訪(fǎng)問(wèn)量：3473
- 更新日期：2023-03-20
- 產(chǎn)品介紹：FIB顯微鏡 Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一款超高分辨率分析系統，可為的廣泛類(lèi)型的樣品，包括磁性和不導電材料提供出色的樣品制備和三維表征性能。
- 廠(chǎng)商性質(zhì)：代理商
產(chǎn)品介紹
| 品牌 | FEI/賽默飛 | 價(jià)格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類(lèi) | 聚焦離子束 | 應用領(lǐng)域 | 電子 |
FIB顯微鏡 Thermo Scientific Scios 2 DualBeam 是一款超高分辨率分析系統，可為的廣泛類(lèi)型的樣品，包括磁性和不導電材料提供出色的樣品制備和三維表征性能。
Scios 2 DualBeam系統創(chuàng )新性的功能設計，優(yōu)化了樣品處理能力、分析精度和易用性，是滿(mǎn)足科學(xué)家和工程師在學(xué)術(shù)和工業(yè)環(huán)境中進(jìn)行高級研究和分析的理想解決方案。
Scios 2 DualBeam可快速輕松的定位制備各類(lèi)材料的高分辨S/TEM樣品。系統配備Thermo Scientific Auto Slice&View軟件，可以高質(zhì)量、全自動(dòng)地采集多種三維信息。無(wú)論是在STEM模式下以30kV來(lái)獲取結構信息，還是在較低的能量下從樣品表面獲取無(wú)荷電信息，系統可在廣泛的工作條件下提供出色的納米級細節。Scios 2 DualBeam可幫助所有經(jīng)驗水平的用戶(hù)更快、更輕松的獲得高質(zhì)量、可重復的結果，此外，系統專(zhuān)為材料科學(xué)中具挑戰的材料微觀(guān)表征需求而設計，配備了全集成化、極快速MEMS熱臺，可在更接近真實(shí)環(huán)境的工作條件下進(jìn)行樣品表征。
FIB顯微鏡 Thermo Scientific Scios 2 DualBeam 特點(diǎn)：
☆ 使用Sidewinder HT離子鏡筒快速、簡(jiǎn)便地制備高質(zhì)量、定位TEM和原子探針樣品；
☆ Thermo Scientific NICol 電子鏡筒可進(jìn)行超高分辨成像，滿(mǎn)足廣泛類(lèi)型樣品的成像需求；
☆ 各類(lèi)集成化鏡筒內及極靴下探測器，采集優(yōu)質(zhì)、銳利、無(wú)荷電圖像，提供完整的樣品信息；
☆ 高度靈活的110mm樣品臺和內置的Thermo Scientific Nav-Cam相機實(shí)現樣品導航；
☆ DCFI、漂移抑制技術(shù)和Thermo Scientific SmartScan等模式實(shí)現無(wú)偽影成像和圖形加工；
☆ 靈活的DualBeam配置，優(yōu)化解決方案滿(mǎn)足特定應用需求。
