環(huán)境真空掃描電鏡（Environmental Scanning Electron Microscope, ESEM）是一種高級顯微鏡技術(shù)，結合了掃描電子顯微鏡（SEM）與環(huán)境控制技術(shù)的特點(diǎn)。與傳統的掃描電鏡相比，環(huán)境真空掃描電鏡具有更多的功能和靈活性，特別是在處理非導電、非導熱或含水樣品時(shí)。
主要體現在以下方面：
1、環(huán)境控制：與傳統的SEM需要在高真空環(huán)境下工作不同，ESEM可以在低真空或環(huán)境壓力下工作。這使得研究者能夠觀(guān)察那些在傳統SEM中難以觀(guān)察的樣品，如生物樣品、含水的地質(zhì)樣品或容易氧化的材料。
2、減少樣品制備：由于環(huán)境掃描電鏡能夠在低真空下工作，因此可以減少或省略許多傳統的樣品制備步驟，如脫水、干燥、噴金等。這不僅簡(jiǎn)化了樣品制備過(guò)程，還保留了樣品的原始狀態(tài)。
3、動(dòng)態(tài)觀(guān)察：ESEM允許在更自然的條件下觀(guān)察樣品，甚至可以觀(guān)察一些動(dòng)態(tài)過(guò)程，如生物樣品的生理活動(dòng)、化學(xué)反應的進(jìn)行等。
4、高分辨率成像：盡管在低真空或環(huán)境壓力下工作，但ESEM仍然能夠提供高分辨率的圖像，幫助科學(xué)家更好地理解樣品的微觀(guān)結構和形態(tài)。
5、多功能性：除了常規的形貌觀(guān)察外，ESEM還可以與其他技術(shù)（如X射線(xiàn)能譜儀）結合，進(jìn)行微區成分分析。
在應用方面，
環(huán)境真空掃描電鏡廣泛用于多個(gè)領(lǐng)域，如金屬、陶瓷、礦物、水泥、半導體等材料的顯微形貌觀(guān)察與分析，各種材料微區化學(xué)成分的定量檢測，以及生物、醫學(xué)和農業(yè)等領(lǐng)域的科學(xué)研究。
金屬及合金、斷口、焊點(diǎn)、拋光斷面、磁性及超導材料
陶瓷、復合材料、塑料
薄膜/涂層
地質(zhì)樣品斷面、礦物
軟材料：聚合物、藥物、濾膜、凝膠、生物組織、植物材料
顆粒、多孔材料、纖維
水合/脫水/濕潤/接觸角分析
結晶/相變
氧化/催化
材料生成
拉伸（伴隨加熱或冷卻）
