CleanMill氬離子研磨系統為電池樣品SEM表征提供高質(zhì)量的制樣方案，傳統的機械研磨方式制備樣品斷面，斷面不可避免的存在機械損傷和磨料嵌入樣品引起的污染。使用氬離子束切割樣品制備，可以制備出沒(méi)有機械損傷和表面污染的平整斷面，非常適用于 制備電池材料和部件的斷面樣品，從而進(jìn)行掃 描電子顯微鏡結構表征分析。

訪(fǎng)問(wèn)量：2273

更新日期：2023-03-20

￥面議

ALT327 impact-freezer 沖撞冷凍制樣, 為 ALTO 冷凍掃描電鏡系統而設計的撞擊式冷凍制樣設備，提供了樣品載體和樣品載臺，它們可以放置在 ALTO 2500 冷凍工作站或ALTO 1000 的液氮泥加工站中*。

訪(fǎng)問(wèn)量：1778

更新日期：2023-03-20

￥面議

Gatan氬離子拋光系統Ilion II 697，可利用IlionII進(jìn)行拋光加工的材料種類(lèi)十分廣泛，包括由多元素組成的試樣，以及具有不同的機械硬度、尺寸和物理特性的合金、半導體材料、聚合物和礦物等。

訪(fǎng)問(wèn)量：3082

更新日期：2023-03-20

￥面議

SOLARUS （955）Plasma等離子清洗儀，去除碳氫化合物對TEM和SEM樣品臺或樣品的污染，*的清洗解決方案，它利用等離子配方，對于所有的樣品，包括Holey碳膜，都具有更快更*的清洗效果。

訪(fǎng)問(wèn)量：3046

更新日期：2023-03-20

￥面議

BRIGHT KAS-2000F離子濺射儀，針對SEM/TEM開(kāi)發(fā)出的產(chǎn)品，它可以對不導電樣品進(jìn)行噴鍍，使導電性不理想的樣品也能夠在SEM/TEM中進(jìn)行觀(guān)測。

訪(fǎng)問(wèn)量：2391

更新日期：2023-03-20

￥面議