STEM透射電鏡是賽默飛用于高分辨率成像和分析應用的場(chǎng)發(fā)射掃描/透射電子顯微鏡，是專(zhuān)為滿(mǎn)足各種材料科學(xué)樣品和樣品的性能和效率而設計的。在應用中具有大靈活性，結合高再現性能的鏡筒設計，可支持高分辨率二維和三維表征分析、原位動(dòng)態(tài)觀(guān)測及電子衍射應用。
STEM透射電鏡的主要特點(diǎn)：
(1)STEM技術(shù)要求較高，要非常高的真空度，并且電子學(xué)系統比TEM和SEM都要復雜。
(2)加速電壓低，可顯著(zhù)減少電子束對樣品的損傷，而且可大大提高圖像的襯度，特別適合于有機高分子、生物等軟材料樣品的透射分析。
(3)可以觀(guān)察較厚的試樣和低襯度的試樣。
(4)掃描透射模式時(shí)物鏡的強激勵，可以實(shí)現微區衍射。
(5)應用掃描電鏡的STEM模式觀(guān)察生物樣品時(shí)，樣品無(wú)需染色直接觀(guān)察即可獲得較高襯度的圖像。
STEM透射電鏡的形成原理：
在掃描電鏡中，電子束與薄樣品相互作用時(shí)，會(huì )有一部分電子透過(guò)樣品，這一部分透射電子也可用來(lái)成像，其形成的像就是掃描透射像。掃描電鏡的STEM圖像跟透射電鏡類(lèi)似，也分為明場(chǎng)像和暗場(chǎng)像，明場(chǎng)像的探測器安裝在掃描電鏡樣品的正下方，當入射電子束穿過(guò)樣品后，散射角度較小的電子經(jīng)過(guò)光闌孔選擇后進(jìn)入明場(chǎng)探測器形成透射明場(chǎng)像，散射角比較大的電子經(jīng)DF-STEM電極板反射，由二次電子探頭接受形成暗場(chǎng)像。
