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    產(chǎn)品展示
    • Scios 2 DualBeam超高分辨率分析系統

      Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一款超高分辨率分析系統,可為廣泛類(lèi)型的樣品,包括磁性和不導電材料提供出色的樣品制備和三維表征性能。

      訪(fǎng)問(wèn)量:2790
      更新日期:2023-03-20
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    • Helios 5 LaserPFIB顯微鏡

      PFIB顯微鏡較快的材料去除率和較高的切割面質(zhì)量,是毫米尺度范圍納米分辨率下較快的高質(zhì)量亞表面和三維表征設備。

      訪(fǎng)問(wèn)量:4715
      更新日期:2023-03-20
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    • Helios 5 DualBeamFIB雙束掃描電鏡

      Helios 5 DualBeam FIB雙束掃描電鏡經(jīng)過(guò)精心設計,可滿(mǎn)足材料科學(xué)研究人員和工程師對廣泛的 FIB-SEM 使用需求,即使是具挑戰性的樣品。

      訪(fǎng)問(wèn)量:5175
      更新日期:2023-03-20
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    • Scios 2 DualBeamFIB顯微鏡

      FIB顯微鏡 Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一款超高分辨率分析系統,可為的廣泛類(lèi)型的樣品,包括磁性和不導電材料提供出色的樣品制備和三維表征性能。

      訪(fǎng)問(wèn)量:3729
      更新日期:2023-03-20
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    • Scios 2 DualBeamFIB雙束掃描電鏡

      Scios 2 DualBeam FIB雙束掃描電鏡系統創(chuàng )新性的功能設計,優(yōu)化了樣品處理能力、分析精度和易用性,是滿(mǎn)足科學(xué)家和工程師在學(xué)術(shù)和工業(yè)環(huán)境中進(jìn)行高級研究和分析的理想解決方案。

      訪(fǎng)問(wèn)量:5005
      更新日期:2023-03-20
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    • Talos F200i S/TEM透射電鏡

      Thermo Scientific Talos F200i S/TEM 透射電鏡是賽默飛用于高分辨率成像和分析應用的場(chǎng)發(fā)射掃描/透射電子顯微鏡,其電壓范圍為20到200 kV,是專(zhuān)為滿(mǎn)足各種材料科學(xué)樣品和樣品的性能和效率而設計的。

      訪(fǎng)問(wèn)量:3821
      更新日期:2023-03-20
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