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    Monarc 陰極熒光系統

    Monarc 陰極熒光系統

    • 訪(fǎng)問(wèn)量:2123
    • 更新日期:2023-03-20
    • 產(chǎn)品介紹:Monarc 陰極熒光系統,通過(guò)突破性的光路設計,Monarc 具有顯著(zhù)增加的靈敏度和譜分辨率,由此帶來(lái)的*特色的波長(cháng)-角度分辨能力,使您能夠進(jìn)行更為完整的陰極熒光(CL)表征分析工作
    • 廠(chǎng)商性質(zhì):代理商

    產(chǎn)品介紹

    品牌其他品牌價(jià)格區間面議
    產(chǎn)地類(lèi)別進(jìn)口應用領(lǐng)域醫療衛生,環(huán)保

    Monarc 陰極熒光系統

    品牌: GATAN

    名稱(chēng)型號:MonoCL4新一代陰極發(fā)光系統

    制造商: GATAN公司

    經(jīng)銷(xiāo)商:歐波同(中國)有限公司

     

     型號 450

     Monarc™—重新定義了 SEM (掃描電子顯微鏡)上陰極熒光 (CL) 表征的能力。

    通過(guò)突破性的光路設計,Monarc 具有顯著(zhù)增加的靈敏度和譜分辨率,由此帶來(lái)的*特色的波長(cháng)-角度分辨能力,使您能夠進(jìn)行更為完整的陰極熒光(CL)表征分析工作。作為新一代的CL探測器,Monarc 為高要求的納米光子學(xué)(nanophotonics)、光電子學(xué)(optoelectronics)以及地質(zhì)科學(xué)等應用領(lǐng)域帶來(lái)了全新的見(jiàn)解

     

    Monarc 陰極熒光系統性能優(yōu)點(diǎn)


    快速獲取高質(zhì)量數據

    • 以?xún)?yōu)異的空間分辨率(<10 nm="" 1="" br="">(0.1 nm)采集 CL 數據

    • 采集同時(shí)具有角度和波長(cháng)分辨能力的 CL 數據

    • 相較前代技術(shù),以高達30倍的更快速度采集超光譜
    (hyperspectral)數據


    操作簡(jiǎn)便


    • 通過(guò)全自動(dòng)的光路對準和基于配方驅動(dòng)的操作,得到優(yōu)化的結果

    • 恒常對準的光路為短期與長(cháng)期工作帶來(lái)可重復的結果

    • 大視野提高數據采集通量,并簡(jiǎn)化用戶(hù)的工作流程

     

    與其它信號的精確關(guān)聯(lián)


    • 同時(shí)偵測多種信號,對物理性質(zhì)或成分信息與CL數據進(jìn)行關(guān)聯(lián)成像

    • 不需折衷妥協(xié)——在進(jìn)行CL測量的同時(shí),充分利用 SEM 的 in-lens探頭

     

     

    圖 1. 該幅偏振過(guò)濾的 CL 圖像證明了 Monarc 能夠提供空間分辨率優(yōu)于10 nm 的 CL 數據。圖像來(lái)自尺寸在 100 nm 左右的星狀金納米顆粒兩組正交線(xiàn)性偏振發(fā)光的顏色疊加。

     

    特色功能


    • 角度分辨(angle-resolved CL,ARCL):在遠低于光學(xué)衍射極限的尺度上理解光與物質(zhì)的交互作用——相較前代技術(shù),400x 更大視野,且不產(chǎn)生實(shí)際分辨率損失

    • 波長(cháng)-角度分辨(wavelength- and angle-resolved CL, WARCL):跨越多重觀(guān)察角度與波長(cháng),對光與物質(zhì)的交互作用進(jìn)行可視化——歸功于*的光路設計,以前無(wú)法做到或非常難以實(shí)現的表征手段,在 Monarc 上成為常規工作

    • 偏振過(guò)濾:獲知例如光波段擔任納米天線(xiàn)、光子晶體等深度次波長(cháng)結構的發(fā)光偏振性能

     

    應用領(lǐng)域
    • 光電材料研發(fā)

    • LED 和激光失效分析

    • 顯示與照明

    • 光-物質(zhì)交互作用基礎研究

    • 納米光子學(xué)

    • 光子晶體

    • 地質(zhì)科學(xué)-痕量元素分布

    • 光伏材料表征

    • 熒光技術(shù)

     

    Monarc 配備兩種不同型號,滿(mǎn)足不同應用需求:


    Monarc
    適合于地質(zhì)科學(xué)與面分布成像應用,Monarc 型號擁有不受譜分辨率影響的更大視野,并通過(guò)其新穎的波長(cháng)過(guò)濾譜成像能力,提供更高空間采樣的超光譜數據采集,性能大大超越基于前代技術(shù)的 SEM CL 探測器。


    Monarc Pro
    對于納米光子學(xué)與光電子材料應用,Monarc Pro 更為適用,由于其提供了更高的靈敏度與譜分辨率;并具備*的波長(cháng)-角度分辨分析能力以及偏振過(guò)濾選項。

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