鎢燈絲掃描電鏡成像平臺即時(shí)可用。彩色圖像讓成分分布更直觀(guān)，實(shí)時(shí)定量能譜分析讓科研更高效，低電壓及電子束減速模式配合經(jīng)典的CBS探頭(同軸環(huán)狀背散射探頭)使不導電樣品也可以在不鍍金條件下呈現*的成像性能。低真空則可以在不鍍膜的情況下對不導電樣品進(jìn)行更真實(shí)的能譜元素分析。專(zhuān)為快速分析而設計，智能型掃描電鏡，讓新手用戶(hù)也可以輕松操縱。
鎢燈絲掃描電鏡將微區成分分析與電鏡成像集成在同一平臺上，快速提供所需微觀(guān)形貌及實(shí)時(shí)成分信息，幫助學(xué)術(shù)和工業(yè)用戶(hù)快速獲得全面、可靠的數據，準確執行故障分析和缺陷檢測。通用型SEM系統，可涵蓋多種類(lèi)型樣品?？煞治鼋^緣材料、處理大而重的樣品，同時(shí)能夠分析常規的小尺寸樣品。靈活性SEM系統，支持各類(lèi)功能附件。使用便捷，不依賴(lài)于用戶(hù)操作水平、能夠便捷提供元素或化學(xué)信息。高度自動(dòng)化，自動(dòng)對中技術(shù)確保系統始終處于最佳工作狀態(tài)，用戶(hù)指南及撤銷(xiāo)功能幫助用戶(hù)更輕松操作系統。處理效率高，實(shí)時(shí)定量成分分析成像，更快獲得定量分析數據。
鎢燈絲掃描電鏡可以完成實(shí)時(shí)成分信息，同步掃描獲取多種信號時(shí)執行能譜分析，實(shí)時(shí)檢測形貌與元素信息；成像平臺即時(shí)可用，只需關(guān)注數據采集，不必憂(yōu)慮電鏡條件設置；更快獲得數據，多種成像和掃描策略，優(yōu)化圖像采集效果并提升系統處理能力；靈活的樣品臺設計，全開(kāi)門(mén)式設計，大樣品可輕松加載到樣品倉內，*的成像性能，提供低真空模式和電子束減速模式用于消除荷電效應。
