場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡搭載*的實(shí)時(shí)元素成像功能和先進(jìn)的自動(dòng)光學(xué)系統，實(shí)現灰色區域解析，讓您不再憂(yōu)心顯微鏡性能，更加專(zhuān)注于研究本身。掃描電鏡具有多功能性和高質(zhì)量成像性能，采用了創(chuàng )新性的末級透鏡設計，引入靜電式末級透鏡，支持鏡筒內高分辨率檢測，即使是針對磁性樣品也可實(shí)現成像及分析性能。在原有性能基礎之上，進(jìn)一步優(yōu)化了超高分辨成像能力，并且增設許多新功能提升其易用性。
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡在耐用的SEM平臺上引入了智能對中技術(shù)，不再需要用戶(hù)手動(dòng)進(jìn)行調整操作，而且，FLASH自動(dòng)執行精細調節工作，只需移動(dòng)鼠標幾次，就可以完成必要的透鏡居中、消像散和聚焦矯正。此外，掃描電鏡的工作距離不再意味著(zhù)低分辨成像，系統還可升級實(shí)時(shí)元素譜/圖成像功能，*改變了幾十年來(lái)傳統SEM-EDS固有的元素分析流程，將元素分析效率提升。任何用戶(hù)都可以輕松地得到的分析效果。
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的性能特點(diǎn)：
1.全面解析：全面的納米和亞納米分辨率性能，適用于納米顆粒、粉末、催化劑、納米器件、大塊磁性樣品等材料；
2.靈活性：非常靈活的處理范圍廣泛的樣品類(lèi)型，包括絕緣體，敏感材料，或磁性樣品，并收集對您的應用重要的數據；
3.SmartAlign技術(shù)：使用SmartAlign技術(shù)(智能調整光學(xué)系統)，實(shí)現光學(xué)系統自動(dòng)調整，減少維護時(shí)間；
4.先進(jìn)的自動(dòng)化：先進(jìn)的自動(dòng)化包括FLASH自動(dòng)圖像微調、撤銷(xiāo)、用戶(hù)向導、Maps成像拼接的FLASH技術(shù)；
5.實(shí)時(shí)定量EDS：元素信息觸手可及，利用ColorSEM技術(shù)，提供實(shí)時(shí)元素面分布成像定量分析，結果獲取更加快速、簡(jiǎn)便；
6.標準工作流操作：內置了用戶(hù)工作流功能，無(wú)論是初學(xué)者還是經(jīng)驗豐富，都能夠快速上手，并穩定獲取實(shí)驗數據。
